1. 공정 가능한 기판 : Si wafers 2. 공정 가능한 Si 사이즈 : 2”, 3” , 4”, 5” ,6” , 8”, 12” 3. 배치당 Min수량 : 25장
4. 공정 순서 Wafer Cleaning Open=> Wafer Cleaning of BOE ( Buffer Oxide
Etchant) => Thermal Oxidation ( Wet or Dry ) => Thcikness data by Nano
spec=>Air Zero Package 5. Thermal Oxidation 방법 : Wet or Dry Oxidation 6. Thermal Oxidation Thickness :
Dry (500A~3,000A)
Wet ( 1,000A~3um) 7. 관리 Uniformity : Wafer to Wafer
: 3%이내 In wafers : 3%이내 단, 2”,3”,5”는 작업은 가능하나 Quartz Boat를 4인치 6인치를 사용하는 관계로
Uniformity가 다소 높을 수 있습니다. 하지만,
Passivation으로 역할은 충분합니다.
8. Delivery : 1주일이내 ( 필요하신 두께에 따라 조금씩 차이가 있을 수 있습니다.) 성적서 동봉, Air Zero Packing
Dry Oxide AFM 측정결과 [RMS Roughness : 8.62Å , Ave Roughness :
6.42Å]
SiO2 Property
Property (Units)
|
Value
|
Property (Units)
|
Value
|
Density
(g/cm3)
|
2.27
|
Melting point
(℃)
|
=1700
|
Dielectric
Constant
|
3.9
|
Molecular
Weight
|
60.08
|
DC resistivity@250℃
|
10E16
|
Molecules/cm3
|
2.3 x 10E22
|
Energy gap
(ev)
|
=9
|
Specific heat
(J/g℃)
|
1.0 (J/g℃)
|
Thermal
Conductivity (W/cm2℃)
|
0.014
|
Film Stress
@25℃
|
2-4 x 10E18
dyne/cm2
|
Linear
expansion (ppm/℃)
|
0.05
|
IR absorption
peak (mm)
|
9.3
|
Refractive
index
|
1.46
|
Etch rate
BHF(49%) nm/min
|
100 (nm/min)
|
SiO2
Thickness 별 Color (색깔 표현의 한계로 차이가 약간 있습니다.)
Film Thickness
(Å)
|
Color
|
Film Thickness
(Å)
|
Color
|
1,000
|
Dark
violet to red violet
|
7,200
|
Blue
green to green (quite broad)
|
2,000
|
Light
gold or yellow ; slightly metallic
|
8,000
|
Orange
(rather broad for orange)
|
3,000
|
Blue
to violet blue
|
9,200
|
Blue
green
|
4,100
|
Light
orange
|
1um
|
Carnation
pink
|
5,000
|
Blue
green
|
1.21um
|
Violet
red
|
6,000
|
Carnation
pink
|
1.5um
|
Blue
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Thickness 측정 방법
한 캐리어의 25장 중 #1,#5,#10,#15,#20,#25번을 각 장마다 Top, Bottom, Left,,
Right, Center 5포인트 측정을 원칙으로 합니다.
* 한 웨이퍼의 평균 두께치 (Å) = C의두께+T의두께+B의두께+L의두께+R의두께 / 5
* 한 웨이퍼의 Uniformity (%) = (C,T,B,L,R중 최대치 두께-최저치 두께/ 2* 한 웨이퍼의 평균 두께치)*100
[Passivation 역할을
하는 SiO2를 놓고 Si Etching하는 방법]
TMAH 용액을 사용하면 oxide attack 없이 Si etching 이 가능합니다. KOH 를 사용하시려면 Silicon Nitride 막을 사용하셔야 합니다.
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